蔡司技術清潔度解決方案

確定根本原因,快速做出正確決定。

更快的標準分析
單次過濾掃描即可偵測光澤金屬顆粒<><>更快的粒子分類<><>將光學式與電子顯微鏡無縫結合在作業流程中<><>更快的決定<><>分析重要顆粒的化學組成,辨識汙染源<><>更快的文件化<><>一步建立符合目前所有工業標準的清潔度報告<><>更快的顆粒檢測<><>使用整合式機器學習演算法進行驗證

什麼是技術清潔度?

技術清潔度非常重要,尤其是在電子工程或汽車工業等製造領域。如果汙染發生在對於粒子敏感的點上,可能會快速導致功能缺損,或甚至失去作用。如果系統中的殘留髒污非常少以至於不會發生損壞,則在技術上被認為是乾淨的 。

技術清潔度對於以下領域來說特別重要:
汽車與電動車業<><>醫療行業<><>機械工程業<><>積材製造業
電子工程與電池製造業<><>光學工業<><>油類分析與水力發電業

為什麼技術清潔度如此重要?

拜技術進步所賜,許多行業都需要日益複雜的系統。早在1990年代,汽車工業零件汙染造成的損害就有所增加了。作業程序很顯然地必須被標準化。所謂的「VDA 19 Guideline」,也被稱為「技術清潔度測試 — 功能相關汽車零件的顆粒汙染」,於2004年發佈,並於2015年修訂為VDA 19 Part 1。在國際上,ISO 16232(2007)是一套標準法規。VDA19 Part 2包括2010年清潔度相關的裝配定向規則的指南。VDA19 Part 1 精確地定義出多種汙染。這些定義提供了標準化作業程序,使汙染物可以通過清潔度分析來檢測,並進行其他清潔流程並做出相應的決策。目的是預防性地避免部件上的殘餘髒污。

粒子<>纖維<>固體組成如<>金屬<>塑膠<>礦物<>樹脂<>鹽<>長寬比為1:20<>纖維寬度: ≤ 50 µm

用於描述工藝中關鍵污染特徵的
相關微粒分析

供應商、製造商及最終使用者都期望不斷提高品質標準。因此,採用創新技術設計的清潔工藝對於在整個生產過程中排除相關功能性零部件的污染至關重要。蔡司的技術清潔度解決方案能夠找到造成污染的根本原因,並讓您更快做出正確的決定。

如何找到根本原因?蔡司技術清潔度解決方案

ZEISS ZEN core技術清潔度分析大幅提升了異物分類的效率

蔡司技術清潔度解決方案提取和過濾工作流程

透過技術清潔度解決方案來達到最佳化的流程

最大化清潔度 ─ 最高品質

粒子汙染物是任何產品效率、功能和壽命的敵人。據研究顯示,液壓和需充油的機器的主要故障來源是粒子污染。油液分析有助於最大限度地降低維護成本並延長機器正常運行時間。

為製造業的需求量身訂製

蔡司技術清潔度解決方案是與汽車製造商和供應商合作開發的。開發者對於簡單易用且直覺化的高效能顆粒鑑別和特徵化系統有特定的要求。

<>如此一來,蔡司解決方案不僅易於應用,也可運用到任何製造或工業環​​境中的多個地點,並且可供非顯微鏡專家的操作員使用。

蔡司技術清潔度解決方案符合既定的工業標準:

部件技術清潔度:<>油類清潔度<>製造流程中醫療設備的清潔度<>VDA 19.1<>VDI 2083, part 21VDA 19.2 (Illig Value)ISO 4007ISO 16232DIN 51455SAE AS 4059
為了在一個工作步驟中就能運用所有相關資料以建立清潔度報告,蔡司顯微鏡和HYDAC汙染物取樣儀器能夠在作業流程中進行無縫資料交換,進而提升整體工作效率。技術清潔度成功的案例<>汽車工業

可能的汙染源及應用

此圖顯示滾珠軸承中的顆粒
滾珠軸承等運動部件之間的顆粒
圖形顯示注射器壓蓋上的顆粒,由於缺少技術清潔度,其中可能存在的顆粒無法被發現
引擎等注射嘴中的顆粒
圖形顯示油和潤滑劑中的顆粒。
油和潤滑劑中的顆粒
圖型顯示因技術清潔度不足而帶顆粒的電路板。
電子觸頭之間的顆粒,例如印刷電路板
此圖顯示注射器中的顆粒
注射器與植入物中的顆粒

蔡司One-Scan Technology加快50%的速度

最新的蔡司軟體解決方案能提升效率

除了顆粒的定量及尺寸量測之外,技術清潔度標準還要求將顆粒區分成金屬光澤顆粒和非光澤顆粒。傳統的方法只能通過兩次掃描過濾來完成區分,每次掃描的濾膜都採用不同的偏光板和分析器方向。藉由蔡司單次掃描技術,現在只需一次掃描就可以完成區分 — 使完成時間縮短高達50%。2021年3月,弗勞恩霍夫製造工程與自動化研究所(Fraunhofer Institute for Manufacturing Engineering and Automation, IPA)授予蔡司單次掃描技術一等獎,在REINER排名第一!Fraunhofer Purity技術獎

蔡司ZEN core技術清潔度分析評估包含:<>全自動評估<>尺寸、長度、座標的資訊偽影<>金屬光澤顆粒和非光澤顆粒的區分可通過濾膜的單次掃描來確定<>將偽影依尺寸劃分,如帶有產品指紋的點雲
此圖形為一個顯示技術清潔度評估的裝置

最大生產力通過技術清潔度分析來達成

蔡司軟體通過機器學習加速顆粒的分類

技術清潔度是 ZEN core軟體產品組合的一部分,而ZEN core來自工業顯微鏡部門。為了最佳化顆粒分類,蔡司現在為 ZEN core使用者提供了技術清潔度分析(TCA)解決方案,其中包括三個有關機器學習的預先訓練模組。此模組提供根據分析影像的測量參數對顆粒進行分類的功能 。通過三個預先訓練好的機器學習模型來分析樣本,而這些模型可以讓使用者另外進行訓練。通過灰階影像進行樣本分析,並在全新TCA作業模板的背景中進行預先訓練好的物體分析機器學習模型,同時再基於現有的顆粒量測結果,對型別分類進行並行檢查。這種透過機器學習演算法分類的額外檢查,會經由 「查看」顆粒,獲得顆粒大小、形狀、強度和類型等的結果,並將各種特徵組合成大量無關聯的決策樹。透過使用被訓練來分類物體模型的分類法,自動個別評估每個決策樹來得到結果。最終結果為自動預測顆粒種類。

使用蔡司技術清潔度物體分類增加生產力:

減少暗金屬零件的50%髒污,節省高達25%的時間

有目標和無目標分類的顆粒影像比較:例如,分析出10個樣本,每天可節省3.5小時的時間。

藉由高標準程序檢查技術清潔度

蔡司產品組合能夠在高效作業流程中,結合顆粒偵測及分類,不僅發現顆粒,更能根據汙染源將其分類。

<>藉由蔡司的解決方案,您可以將來自光學顯微鏡和電子顯微鏡的數據合併到一個工作流程中,以獲得更全面的資訊。通過這種方式獲得有依據且有關汙染原因。

圖像顯示進行清潔度測試的設備此測試的目的是為了達到技術清潔度。

蔡司提供全面性的技術清潔度

光學顯微鏡系統

辨認潛在汙染危險

<>按數量、尺寸分佈和形態逐項列出顆粒,並區分出金屬和非金屬顆粒以及小至 2 μm 的纖維。根據工業標準創建清潔度報告。

相關顆粒分析

建立進階的分析工作流程

<>使用相關自動顆粒分析 (CAPA) ,找出過程關鍵顆粒的特徵並識別關鍵顆粒,將光學和電子顯微鏡的數據結合在一個工作流程中。

電子顯微鏡和 EDS 系統

查明污染來源

透過測量顆粒的形態特性及使用全自動元素分析,按化學成分對顆粒進行分類。蔡司 SmartPI是電子顯微鏡的顆粒分析軟體,能自動檢測、分析和分類顆粒,並將顯微鏡控制、影象處理和元素分析結合到單一應用中。

用於技術清潔度的蔡司光學和電子顯微鏡

此圖顯示滾珠軸承中的顆粒
蔡司SteREO Discovery.V8
圖中顯示注射器壓蓋的顆粒,其中可能由於缺少技術清潔而存在顆粒。
<>蔡司Axio Zoom.V16

圖中顯示油和潤滑劑中的顆粒。
<>蔡司Axio Imager 2

圖中顯示因技術清潔度不足而帶粒子的電路板。
蔡司Axioscope 7
圖中顯示注射器中的顆粒
<>蔡司EVO

圖中顯示注射器中的顆粒粒子
<>蔡司 Sigma 300

您需要更多關於蔡司技術清潔度解決方案的資訊嗎?

請填寫以下表格以下載我們的技術清潔度型錄。

和蔡司一起踏入技術清潔度的全新世代

您能從蔡司工業量測解決方案中獲得的技術及相關資訊:運用最新量測學進行更快的分析和決策<>生產、電子工程、汽車工業和其他領域的技術清潔度<>根據既定的清潔度測試對殘餘髒污的汙染<>根據標準化提取程式進行檢測和清潔度分析<>全面的測量服務:從維護、服務和備件,到軟硬體升級、校準、規劃和諮詢<>我們蔡司量測學學院的培訓和教育,支援您應對各項量測挑戰

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