蔡司工業用掃描電子顯微鏡：

見所未見

蔡司工業用掃描電鏡：掃描電子顯微鏡組合

憑藉掃描電子顯微鏡，蔡司為工業品質保證和失效分析領域的各種應用提供了廣泛的系統組合。

滿足您需求的解決方案

蔡司掃描電子顯微鏡（SEM）系列

	蔡司EVO系列標準入門級系統	蔡司Sigma系列高級系統	蔡司GeminiSEM系列高端系統	蔡司Crossbeam系列具有3D功能的高端系統
解析度	1 kV時：9 nm	1 kV時：1.3 nm	1 kV時：0.8 nm	1 kV時：1.4 nm
系統	常規掃描電子顯微鏡，專用於具有挑戰性的EDS分析工作流，提供易於使用的軟體選項	用於高品質成像和高級分析顯微鏡的場發射掃描電子顯微鏡	場發射掃描電子顯微鏡可滿足次奈米成像、分析和樣品靈活性方面的高要求	用於高通量3D分析和樣品製備的場發射掃描電子顯微鏡以及飛秒鐳射的使用
優勢	處理日常應用雙冷凝器可在EDS日常工作中獲得出色的材料回饋靈活、強大、經濟實惠臺式掃描電鏡的智慧替代品，用於材料分析獲取結果的時間短，通量高	從任何樣品中都能獲得準確的可再現結果快速簡便的實驗配置蔡司Gemini技術靈活檢測，圖像清晰 Sigma 560具有出色的EDS幾何結構	高圖像品質和多功能性高級成像模式高效檢測，出色分析蔡司Gemini技術探測器種類繁多，覆蓋範圍廣	FIB-SEM分析中的理想3D解析度離子束和電子束樣品製備工具受益於額外的飛秒雷射器 EDS、EBSD、WDS、SIMS等透過3D目標分析獲取更多樣品資訊
	蔡司EVO	蔡司Sigma	蔡司GeminiSEM	蔡司Crossbeam

蔡司掃描電鏡：工業用顯微鏡解決方案

蔡司Gemini光學系統的發展歷程
蔡司快速3D失效分析關聯工作流解決方案。
跨尺度材料分析只需四個步驟。
簡化掃描電鏡上的當地語系化和導覽：蔡司ZEN Connect
利用蔡司Xradia、蔡司Crossbeam、蔡司Orion製備和分析固態電池

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工業用蔡司Gemini技術。蔡司可為各種應用提供合適的解決方案。觀看影片，瞭解Gemini技術的發展和優勢。

蔡司Gemini光學系統的發展歷程
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觀看有關我們的關聯工作流解決方案的影片！瞭解如何利用蔡司解決方案輕鬆跨技術使用資料，以及如何獲得可靠和高效的結果。

蔡司快速3D失效分析關聯工作流解決方案。
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宏觀結構是什麼樣子？如何在大量樣品中找到感興趣區域？如何存取這些感興趣區域（ROI）？如何進一步分析？

跨尺度材料分析只需四個步驟。
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在一個地方對同一樣品的不同顯微圖像和資料進行組織、視覺化和上下文關聯。不同比例的圖像之間的相關性可疊加在工作區中，便於導覽。

簡化掃描電鏡上的當地語系化和導覽：蔡司ZEN Connect
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透過檢測完整的樣品，可以確定影響電池品質和使用壽命的成分變化。蔡司工業用顯微鏡解決方案提供無損和高解析度的3D分析，以及對品質檢測十分重要的關聯分析。

利用蔡司Xradia、蔡司Crossbeam、蔡司Orion製備和分析固態電池

蔡司高效導覽

蔡司ZEN core是用於互聯顯微鏡和圖像分析的軟體套件。該軟體可讓您一目了然地全面瞭解情況：其為所有顯微鏡結果提供了一個使用者介面。只需按下按鈕，自動工作流即可確保快速可靠的結果。

聚焦關聯顯微鏡
蔡司ZEN Connect

組織和視覺化不同的顯微鏡圖像，將多模態資料連接到一處。這一開放式平臺使您即使在使用第三方技術的情況下，也能快速從一般概覽轉到高級成像。透過ZEN Connect，您不僅可以對齊、疊加和連結所有圖像資料。您還可以在不同的光學顯微鏡和電子顯微鏡之間輕鬆傳輸樣品和圖像資料。

蔡司ZEN Connect可實現
將不同類型顯微鏡（例如光學顯微鏡和電子顯微鏡）的相關圖像以連接圖的形式呈現。這對詳細研究大型概覽圖像（例如電池）大有裨益。該模組可匯入和連結非圖像資料，例如EDS結果，與出色的EDS系統製造商相容。
聚焦關聯顯微鏡
蔡司ZEN Connect

ZEN Connect以微小的投入為您提供眾多相關資料：所有感興趣區域都會在一次性對齊後自動檢索，並在上下文中顯示。您還可以組織來自多種模式的資料。透過ZEN Connect獲取的所有圖像均可保存在一個結構良好的資料庫中。每個影像檔會自動獲得一個單獨預定義的名稱。每個疊加圖像及其連接的資料集都易於尋找，使用者還可透過全新的過濾功能搜索顯微鏡類型。

視覺化的資料收集：
支援匯入和附加非圖像資料，例如報告和說明（pdf、pptx、xlsx、docx等）。

輕鬆導覽：
點選概覽圖像，在全圖疊加中檢查或重新評估任何感興趣區域。

更智慧、更省時
蔡司ZEN Intellesis

透過使用成熟的機器學習技術（例如像素分類或深度學習），即使是非專業使用者也能透過蔡司ZEN Intellesis獲得可靠、可再現的分割結果。只需載入圖像、確定類別、標記像素、訓練模型並執行分割。

該軟體只要在幾張圖像上訓練一次，便能自動分割成批的數百張圖像。這不僅節省了時間，還減少了使用者造成的偏差。所有耗時的分割步驟都由功能強大的機器學習演算法進行處理。

蔡司ZEN Intellesis
透過機器學習實現顆粒識別，為顆粒識別、學習圖像分割和物件分類提供更高的精度。

Intellesis Object Classification
用於對分割後的顆粒進一步分類，並將其分為不同的子類型。隨後可以利用這些資訊對每種類型的顆粒進行計數。
更智慧、更省時
蔡司ZEN Intellesis

ZEN Intellesis支援對來自多種不同成像源的多維圖像進行輕鬆分割，包括寬場、超解析度、螢光、無標記、共焦、光片、電子和X射線顯微鏡。ZEN的評估模組隨後可根據工業標準自動建立報告和進行測量。

在按類型進行後分割分類時，ZEN Intellesis採用了一種創新方法。相較於典型的機器學習解決方案只查看單個像素的方法，其物件分類模型會使用每個物件的50多個測量屬性來自動區分和分類。根據表格資料，這種分類過程比透過專門訓練的深度神經網路進行的分割要快得多。

層厚示例：
CIGS太陽能電池層的FIB截面疊加：Crossbeam 550 InLens探測器（右）和ZEN Intellesis機器學習分割（左）後的結果。