蔡司表面光潔度和粗糙度解決方案
工業顯微鏡

蔡司表面光潔度和粗糙度解決方案

深入瞭解表面。
適用于您的每一項任務

確保品質,提高長期生產力

確保品質,提高長期生產力

蔡司表面光潔度和粗糙度解決方案

蔡司為表面光潔度和粗糙度測量提供一站式完整解決方案,為品質保證和生產監測支援。蔡司產品組合提供詳細和資訊豐富的資料,為在各種應用中做出正確決策保駕護航,確保動態且可靠的結果。這些接觸和光學解決方案可用於檢測、表徵和測量成品及功能性表面的複雜幾何形狀、形貌及粗糙度。

瞭解蔡司如何助您戰勝部件檢測、表徵和測量所面臨的主要挑戰。

蔡司接觸解決方案

曲面/平面粗糙度測量

蔡司ROTOS是一款用於蔡司三座標測量機的多功能表面紋理接觸感測器。該產品具有極為先進的測量性能和靈活性,適用於不同的技術表面。ROTOS使用三根+/-180°無級旋轉軸,可將輪廓儀定位在任意方向,具有出色的可觸達性。該設備採用模組化設計,配備八個易於更換的探針臂,在不同應用中提供各種接觸方式。

粗糙度精密測量 使用三次元量測儀測量動力總成部件

蔡司為您帶來的優勢
蔡司ROTOS配備3根回轉軸,可在任何方向上以可再現的方式測量整個表面的粗糙度,確保優秀的可觸及性和更高的靈活性。該設備還額外支援所有幾何特性的自動表面檢測,以此確保產品品質和高處理通量。

  • 一次自動運作即可檢測所有性能和粗糙度公差,完全符合標準
  • 無需重複裝夾,準備時間短,靈活的模組化設計
  • 粗糙度測量內置於三次元量測儀的測量流程中

使用三次元量測儀進行粗糙度精密測量 整體葉盤和彎曲的工件表面

蔡司為您帶來的優勢
蔡司ROTOS可透過全自動流程以可再現的方式測量葉片不同位置的表面粗糙度。其可配用能夠觸及凹面和葉片之間間隙的RS-10(RS-4)粗糙度探針,因此非常適合整體葉盤的測量。

  • 透過對每個整體葉盤進行深入的粗糙度測量來降低成本
  • 使用蔡司CALYPSO和蔡司PiWeb輕鬆處理大量測量結果和公差

蔡司光學解決方案

用於檢測、表徵和測量複雜部件的靈活解決方案

光學表面測量可在非接觸的情況下掃描表面精細結構和敏感材料。可以確定2D特徵值和3D表面參數,從而捕捉微觀結構的特性。

蔡司LSM 900 Mat:3D形貌、表面/區域粗糙度、塗層厚度測量

蔡司LSM 900 Mat以高精度和可重複性提供與所製造的部件表面粗糙度相關的3D形貌、測量結果和資訊。其採用非破壞性光學技術,非常適合敏感表面,並為所評估的表面提供全面的定性和定量表徵。

齒科植入物的表面特徵

蔡司為您帶來的優勢
蔡司LSM 900 Mat在測量時不會留下痕跡或造成損壞,非常適合敏感表面的分析。以鐳射掃描原理(CLSM)為基礎,結合了所有基本的光學顯微觀察方法,可對材料進行高精度的形貌對比。

其所配備的專用物鏡具有極高的數值孔徑,尤其適用於低放大倍率。由此可實現出色的圖像品質、更少的噪音和偽影,從而在單個圖像中顯示更大表面區域的更多細節,無需花費時間拼接圖像。

增材製造的316L不銹鋼經鐳射拋光後的表面分析

蔡司為您帶來的優勢
相比數字顯微鏡,蔡司LSM 900 Mat可更精細地快速採集2.5維形貌並對粗糙度值(按照國際標準)進行量化,處理所有相關參數,並在蔡司Confomap分析軟體中直接對比多個表面光潔度。

蔡司LSM 900 Mat可高效可靠地表徵不銹鋼的表面品質,以此量化所達到的表面光潔度,評估鐳射拋光工藝品質,並縮小增材製造的316L不銹鋼表面處理工藝的公差範圍。

電子電池隔膜上的PVDF顆粒和電極粗糙度分析

蔡司為您帶來的優勢
材料專用的蔡司LSM 900可對電池隔膜的微觀結構進行非接觸精確評估,而不會對隔膜表面或結果產生影響。使用專用10倍物鏡可在大範圍內測量粘合劑顆粒的高度和分佈,其高數值孔徑確保提供出色的表面細節。

將蔡司Axio Imager 2正置光學顯微鏡與LSM 900 Mat相結合,在一台設備上便能同時使用針對材料分析的所有光學顯微鏡對比方法,並顯示高精度形貌。由於無需更換顯微鏡,可大大節省配置時間。

蔡司協助歐瑞康推動增材製造的工業化進程

您想瞭解更多有關蔡司表面分析和粗糙度測量解決方案的資訊嗎?

請填寫表格,下載我們的產品宣傳冊。

正在載入表格...

如果您想瞭解更多關於蔡司資料處理的資訊,請參閱我們的資料隱私權聲明

聯絡我們

有興趣進一步瞭解我們的產品或服務嗎?我們很高興能為您提供更多的詳細資訊或現場示範,無論是遠端或親自進行。

您需要更多資訊嗎?

與我們聯繫。我們的專家會回覆您。

正在載入表格...

/ 4
下一步:
  • 興趣查詢
  • 個人詳細資料
  • 公司詳細資訊

如果您想了解更多關於卡爾蔡司集團資料處理的流程,請參見我們的隱私權政策。