蔡司技術清潔度解決方案

找出根本原因,更快做出正確決策

更快的標準分析
只需一次過濾掃描即可檢測到閃亮的金屬顆粒

更快的顆粒分類
在無縫工作流中結合光學顯微鏡和電子顯微鏡

更快做出決策
分析關鍵顆粒的化學成分,確定污染源

加速記錄
只需一個工作步驟,即可建立符合目前所有產業標準的清潔度報告

更快的顆粒檢測
以及利用內置的機器學習演算法進行驗證

什麼是技術清潔度?

技術清潔度發揮著重要作用,尤其是在電氣工程或汽車工業等部件製造領域。如在對顆粒敏感的點上受到污染,便會很快導致功能受損甚至故障。如果系統中的殘留污垢非常少,不會造成任何損壞,即可認為系統在技術上清潔。

技術清潔度在以下產業尤為重要:

  • 汽車和電動汽車
  • 醫療產業
  • 機械工程
  • 增材製造
  • 電機工程和電池生產
  • 光學產業
  • 油液分析和液壓

為什麼技術清潔度如此重要?

由於技術進步,許多產業需要越來越複雜的系統。早在20世紀90年代,汽車工業部件污染造成的損壞就開始增加。我們很快就意識到流程必須標準化。「VDA 19指南」又稱「技術清潔度測試——功能相關汽車部件的顆粒污染」,於2004年發佈,2015年修訂為VDA 19第 1部分。在國際上,ISO 16232(2007)構成了一套標準規定。2010年頒佈的VDA 19第2部分包含了裝配生產中與清潔度相關的定向規則指南。

VDA 19第1部分準確定義了各種污染類型。在這些定義的幫助下,可以透過清潔度分析和其他技術清潔過程檢測污染,並做出適當的決定。目的是預防性地避免部件上殘留污垢。

顆粒

纖維

一下物體的固體物

  • 金屬
  • 塑膠
  • 礦物
  • 樹膠
  • 長寬比例為1:20
  • 纖維寬度:≤ 50 µm

透過相關顆粒分析確定工藝關鍵污染的特徵

供應商、製造商和最終使用者對品質標準的要求不斷提高。因此,在整個生產過程中,必須採用創新設計的清潔工藝,以排除對功能相關部件和元件的任何污染。蔡司技術清潔度解決方案能夠識別污染的根本原因,從而更快地做出正確的決定。

  • 蔡司技術清潔度解決方案根本原因
  • 蔡司ZEN core技術清潔度分析中的物件分類
  • 採用提取和過濾的蔡司技術清潔工作流
  • 在我們的成功案例中,您將瞭解到一家奧地利大型引擎製造商為何在十年前就引入了技術清潔度標準,以及蔡司EVO掃描電子顯微鏡在其中發揮關鍵作用的原因。
    大海撈針
  • 如何找出根本原因?蔡司技術清潔度解決方案
  • 提高您在蔡司ZEN core技術清潔度分析中進行物件分類的效率。
  • 採用提取和過濾的蔡司技術清潔工作流
技術清潔度解決方案最佳化了工藝流程
技術清潔度解決方案最佳化了工藝流程

技術清潔度解決方案最佳化了工藝流程

高清潔度確保高品質

顆粒污染是任何產品效率、功能和壽命的大敵。例如,研究表明,液壓和注油系統故障的主要原因是顆粒污染。油液分析有助於盡可能降低維護成本並延長機器的正常執行時間。

根據製造業的需求量身訂製

蔡司技術清潔度解決方案與汽車製造商和供應商合作開發。他們對易於使用且直觀的高性能顆粒識別和表徵系統有特殊要求。

因此,蔡司解決方案易於使用,可部署在多個地點和任何製造或工業環境中,非顯微鏡專家的使用者也可應用。

蔡司技術清潔度解決方案符合既定的產業標準:

部件的技術清潔度

油液清潔度

製造過程中醫療器械的清潔度

VDS 19.1

ISO 4406

VDI 2083,第21部分

VDA 19.2(Illig值)

ISO 4007

ISO 16232

DIN 51455

SAE AS 4059

為在一個工作步驟中建立包含所有相關資料的清潔度報告,蔡司顯微鏡和HYDAC提取設備能夠在一個報告中以無縫工作流交換資料,從而提高工作效率。在我們的雜誌中瞭解蔡司如何將HYDAC設備的資料整合到報告中。

可能的污染源和應用

  • 球軸承

    運動部件之間的顆粒,例如球軸承

  • 噴嘴

    噴嘴中的顆粒,例如來自引擎

  • 油液中的顆粒

    機油和潤滑油中的顆粒

  • 電氣觸點之間的顆粒

    電氣觸點之間的顆粒,例如印刷電路板

  • 注射器中的顆粒

    注射器和植入物中的顆粒

採用蔡司One-Scan技術,速度提高50%

透過創新的蔡司軟體解決方案提高效率

採用蔡司One-Scan技術,速度提高50%

除了對顆粒進行量化和尺寸測量外,技術清潔度標準還要求區分金屬光澤顆粒和非光澤顆粒。傳統方法只能透過兩次掃描濾膜來進行區分,每次掃描時偏振鏡和分析儀的方向都不同。憑藉屢獲殊榮的蔡司One-Scan技術,現只需一次掃描便能實現這一目標,將獲得結果的時間最多縮短50%。2021年3月,弗勞恩霍夫製造工程與自動化研究所(IPA)授予蔡司的蔡司單掃描技術REINER一等獎!弗勞恩霍夫純度技術獎。

利用蔡司ZEN core技術清潔度分析進行評估
利用蔡司ZEN core技術清潔度分析進行評估

利用蔡司ZEN core技術清潔度分析進行以下評估:

  • 全自動評估
  • 關於工件尺寸、長度、面積和座標的資訊
  • 只需對濾膜進行一次掃描,便能區分金屬光澤顆粒和非金屬光澤顆粒
  • 按尺寸等級劃分的工件,作為帶有產品指紋的點雲

技術清潔度分析助您實現高生產率

蔡司軟體利用機器學習加速顆粒分類。

技術清潔度是工業顯微鏡領域ZEN core軟體產品組合的一部分。為最佳化顆粒分類,蔡司現為蔡司ZEN core使用者提供技術清潔度分析(TCA)解決方案,其中包括三個以機器學習為基礎的預訓練模組。該模組提供根據分析圖像的測量參數對顆粒進行分類的功能。樣品透過三個預先訓練好的機器學習模型進行分析,使用者還可對這些模型進行額外的訓練。透過灰度測定對樣品進行分析,並在新TCA任務範本中後臺運作預先訓練好的物件分類機器學習模型,同時根據現有的顆粒測量結果並行檢查類型分類。這種透過機器學習演算法對類型分類進行的額外檢查,查看了透過尺寸、形狀、強度和類型分類等經典分析獲得的顆粒結果,並將各種特徵組合成大量不相關的決策樹。使用物件分類模型訓練的分類方法,對每棵決策樹的結果進行單獨評估。其結果是自動預測顆粒類型。

利用蔡司技術清潔度物件分類提高生產率:

深色金屬部件的誤標量最多可減少50%,時間最多可節省25%

利用蔡司技術清潔度物件分類提高生產率
利用蔡司技術清潔度物件分類提高生產率

有物件分類和無物件分類的顆粒圖像對比:以10個樣品為例,每天可節省3.5小時。

支援雙相機

具有不同分析應用(例如金相分析和技術清潔度分析)的客戶和實驗室需要在單一工作流中使用不同的相機模式、偏振和色彩視圖。蔡司雙相機支援Axiocam 705pol和Axiocam彩色相機,為顯微鏡使用者帶來了以下優勢: 

  • 即時切換偏振走道,更好地識別金屬顆粒或閃亮的金相樣品
  • 即時彩色視圖可快速檢測顆粒並識別可能的根本原因。彩色相機用於金相樣品分析和檢測。

您的優勢:

  • 各種應用的靈活性
  • 在兩台相機之間直接切換
  • 提高生產率和工藝安全性,以取得更好的成果
     

透過高標準檢查技術清潔度

蔡司的產品組合能夠在高效的工作流中將顆粒檢測和分類相結合,不僅能夠發現顆粒,還能根據污染的來源對其進行分類。透過蔡司,您可以在一個工作流中將光學顯微鏡和電子顯微鏡的資料結合起來,從而獲得更多資訊。如此便能對污染原因有充分的瞭解。

  • 透過高標準檢查技術清潔度

得益于蔡司的全面技術清潔度

光學顯微鏡系統

識別潛在的污染危害

按數量、細微性分佈和形態逐一列出顆粒,並區分金屬和非金屬顆粒以及小至2 μm的纖維。根據產業標準建立清潔度報告。

關聯顆粒度分析

建立高級分析工作流

使用相關顯微鏡表徵工藝關鍵顆粒並識別關鍵顆粒,該顯微鏡將光鏡和電子顯微鏡的資料整合到一個工作流中。

電子顯微鏡和EDS系統

定位污染源

測量顆粒的形態特性,並使用全自動元素分析按化學成分對顆粒進行分類。用於電子顯微鏡的顆粒分析軟體蔡司SmartPI可實現顆粒的自動檢測、分析和分類,將顯微鏡控制、影像處理和元素分析內置於一個應用程式。

用於技術清潔度的蔡司光學和電子顯微鏡

  • 蔡司SteREO Discovery.V8

    蔡司SteREO Discovery.V8

  • 蔡司Axio Zoom.V16

    蔡司Axio Zoom.V16

  • 蔡司Axio Imager 2

    蔡司Axio Imager

  • 蔡司Axioscope 7

    蔡司Axioscope

  • 蔡司EVO

    蔡司EVO

  • 蔡司Sigma 300

    蔡司Sigma

與蔡司一同邁入技術清潔度的新時代

蔡司工業量測解決方案的優勢:

  • 利用創新量測技術加快分析和決策速度
  • 用於生產、電機工程、汽車等領域的技術清潔度
  • 根據既定產業標準(例如VDA 19.1、ISO 16232)進行顆粒測量
  • 根據既定的清潔度測試確定殘留污垢的污染情況
  • 根據標準化提取程式進行測試和清潔度分析
  • 全面的測量服務:從維護、保養和備件到軟體和硬體升級、標定、規劃和諮詢
  • 透過蔡司量測學院的培訓和教育,為您和您的員工應對各種計量挑戰提供支援

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