蔡司O-INSPECT duo

蔡司O-INSPECT duo

顯微鏡和測量機合二為一。

蔡司O-INSPECT duo在一台機器中提供了兩種技術:既可以對印刷電路板、燃料電池或電池等大型工件進行整體測量,也可以對其進行高解析度檢測。3D測量技術與顯微檢測的結合提高了效率,節省了品質實驗室的空間。蔡司O-INSPECT duo選配8/6/3三種尺寸。

  • 二合一:顯微鏡和測量機合二為一
  • 快速準確的光學和接觸3D測量
  • 帶附加檢測軟體蔡司ZEN core的高解析度光學元件

蔡司首個多技術系統

作為VMM顯微鏡,蔡司O-INSPECT duo涵蓋了品質保證中的兩個基本應用:對大型或眾多小型部件進行準確測量和高解析度檢測。該設備還專為需要結合尺寸測量和檢測的應用而開發,包括彩色圖像的分割、拼接和影像處理。品質實驗室無需同時購置VMM和顯微鏡,只需一台設備,從而節省了空間和系統成本。進一步瞭解多功能設備在各領域的優勢。

準確的光學和接觸測量
量測

準確的光學和接觸測量

用於平面和敏感工件的高精度

蔡司O-INSPECT duo是一款多感測器測量機,其高解析度光學系統與蔡司VAST XXT接觸掃描感測器搭配使用,給人留下了深刻印象。該感測器可在一次移動中捕捉大量測量點,從而實現快速準確的3D測量。

由於採用了蔡司VAST探針技術(ZVP),可以在非接觸的情況下測量非常小或敏感的部件,而且精度極高,測量時間也大大縮短。這要歸功於大視場、高圖像解析度和出色的圖像保真度,即使在週邊區域也是如此。

在一台機器上完成表面檢測和測量
量測

在一台機器上完成表面檢測和測量

作為視覺測量機和顯微鏡交替使用

除了測量尺寸,許多工件還需要進行表面檢測。過去,測量和檢測需要使用兩個獨立的設備,而蔡司O-INSPECT duo現在提供了一個二合一的解決方案。得益于設備的直觀操作和帶12倍變焦鏡頭的高解析度500萬像素Discovery.V12 scout 160 c彩色相機感測器,現在也可以在測量設備上完成檢測任務。除了常規與蔡司CALYPSO配合使用外,該機器還可與蔡司ZEN core軟體一同用於顯微鏡任務。

我們最大的顯微鏡
顯微鏡

我們最大的顯微鏡

大型部件整體檢測

切割部件已成為過去:現在,可以對印刷電路板、燃料電池或電池等大型工件進行整體光學檢測。這不僅節省了寶貴的資源和時間,還減少了在不同系統之間來回移動零散工件所造成的錯誤。

除了對大型部件進行檢測外,蔡司O-INSPECT duo還適用於對許多小型部件進行自動檢測。這代表測量顯微鏡只需裝載一次,檢測本身只需一步即可完成,無需更換各個樣品。

500萬像素高解析度彩色相機
顯微鏡

500萬像素高解析度彩色相機

準確檢測缺陷

黑白圖像在測量技術方面具有高對比差異,而彩色圖像在顯微分析方面則更具優勢:透過500萬像素的彩色圖像解析度,即使是微小的缺陷也能清晰顯示,從而實現準確的檢測和評估。蔡司O-INSPECT duo可與熟悉的蔡司ZEN core顯微鏡軟體搭配使用。

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瞭解詳情
瞭解蔡司O-INSPECT duo的特點
觀察視野大,圖像清晰度高

蔡司Discovery.V12 scout 160 c相機感測器配有500萬像素,確保了高解析度,並透過12倍變焦實現了微小細節和結構的視覺化。16.1 × 12 mm的大觀察視野可讓每幅圖像顯示更多資訊。彩色相機可進行準確的顯微分析,同時憑藉500萬像素的高解析度,確保在計量方面始終如一地獲得準確結果。

照明

環形燈由外圈和內圈組成,內圈裝有白色LED燈,可單獨控制16個區段。該設備還配有同軸上光源和背光源,可對各種應用和工件進行分析。

快速準確的3D接觸測量

蔡司VAST XXT一次移動即可捕捉大量測量點,實現高精度掃描,精度可達1.5 µm + L/250 µm。

大型平臺

平臺的尺寸為800 × 600 × 300 mm,可以測量和檢測重達100 kg的大型工件,而無需在測量前對其進行切割、破壞或加工。此外,透過大型平臺還可以自動檢測多個小部件。

2個軟體產品

蔡司CALYPSO提供改進的視覺化選項,為您節省時間。CAD模型可疊加顯示,並能快速識別可能出現的偏差(實際與目標的偏差)。透過各種選配配件,蔡司CALYPSO還能為特殊要求提供合適的工具。蔡司ZEN core與顯微鏡相對應:除了傳統的成像功能外,該軟體套件還包括成像、分割、分析和資料連接工具,用於在聯網的實驗室環境和生產中進行多模態顯微鏡檢查。

專業和可操作的報告

蔡司PiWeb報告提供測量資料的一鍵式記錄和視覺化功能,讓您深入瞭解您的部件和流程。

出色對比度

除了同軸上光源和背光源,蔡司O-INSPECT duo還為環形光提供了各種控制選項。內部和外部LED環可分別開啟和關閉,或僅在個別區段啟動。

分析薄膜、成分、密封件、塗層和固體材料

內部和外部LED

環形燈由內部和外部白色LED組成。內部和外部LED的組合可最大限度地照亮工件。

內部LED

內部LED

內環燈增加了表面紋理的對比度,從而改進了聚焦效果,使測量結果更加準確。

外部LED

單元框架

外環燈的LED可過濾干擾環境的光線,從而以高對比照亮有色材料。

分段照明

分段照明

環形燈由16段組成,可單獨控制。這確保了根據工件特性最佳化照明。

符合人體工程學,操作方便

蔡司O-INSPECT duo不僅要在品質、可靠性和速度方面達到高技術標準,還要安全、符合人體工程學並易於使用。只有當產品能夠按照預期的方式輕鬆操作時,部件的出眾技術才能充分發揮作用。因此,我們為蔡司O-INSPECT duo配備了各種有用的功能。

選配託盤

選配託盤

選配的託盤適用於扁平工件,便於運輸並能緊固在機器上。

可拆卸前蓋

可拆卸前蓋

由於前蓋可拆卸,蔡司O-INSPECT duo可以方便、輕鬆地運輸到所需位置,並透過升降車進行定位。

控制台支架

控制台支架

控制台支架可以靈活地安裝在機器的任意一側,確保出色的可及性和可操作性。

CALYPSO還是ZEN core?合二為一

蔡司O-INSPECT duo有兩個專用軟體程式,具有顯微鏡和計量任務的特定功能。因此,相關領域的操作人員無需學習新的軟體。

用於最佳化品質控制的蔡司CALYPSO

用於最佳化品質控制的蔡司CALYPSO

與蔡司CALYPSO相結合,蔡司三次元量測儀可以充分發揮其潛力。最佳化品質控制:軟體可在測量前、測量中和測量後為您提供支援。利用一系列不同的功能對工件進行測量和分析,最大限度地發揮三次元量測儀的作用。

    • 根據PMI自動建立測量計畫:蔡司CALYPSO根據包括所有相關特徵和特性在內的PMI資料自動建立測量計畫。
    • 不同測量計畫的版本控制:由於所有測量計畫均進行了版本控制,因此您可以追溯所有步驟。所有內容都直接在測量計畫中進行管理,因此您無需處理各種副本。
    • 實施和最佳化測量策略:內置生成工具用於測量策略,以應用公司特定的測量策略,或根據蔡司的建議最佳化您的測量計畫。
    • 測量結果視覺化功能強大:透過蔡司PiWeb報告,蔡司CALYPSO提供了一個用於協議設計的內置專業工具,以建立有意義的測量結果視覺化。
    採用蔡司ZEN core的多模態互聯顯微鏡

    採用蔡司ZEN core的多模態互聯顯微鏡

    ZEN core處理的不僅僅是顯微成像:該軟體是全面的成像、分割、分析和資料連接工具套件,適用於連接材料實驗室的多模態顯微鏡。它還具有平鋪、拼接(干涉測量)和自動檢測誤差等多種功能。

      • 一個介面適用于所有蔡司顯微鏡:ZEN core為您提供蔡司顯微鏡和相機的統一使用者介面。執行多模態工作流,並在系統、實驗室和地點之間連接所有成像和分析資料。
      • 先進的成像和自動分析:ZEN core是您設置複合光學顯微鏡自動成像、分割和分析功能的指揮中心。
      • 互聯實驗室的基礎設施解決方案:ZEN core為ZEN Connect實驗室環境提供基礎設施,並將所有蔡司成像和顯微鏡解決方案統一到一個使用者介面中。

      技術細節

      尺寸

      8/6/3

      相機

      蔡司Discovery.V12 scout 160 c,500萬像素彩色相機,2646 × 2056像素

      照明

      16段LED環形燈,帶白光LED、同軸上光源和背光源

      工作距離,單位mm

      55

      機械變焦

      12×

      最大觀察視野,單位mm

      16.1 × 12

      相容接觸測頭

      蔡司VAST XXT – TL1/TL3

      容量

      100 kg

      觸覺和光學精度

      1D:1.5 μm + L/250

      2D:1.8 μm + L/250 μm

      3D:2.2 μm + L/250 μm

      軟體

      蔡司CALYPSO(用於測量)

      蔡司ZEN core(用於顯微鏡檢查)

      應用實例

      觀看應用影片,瞭解蔡司O-INSPECT duo如何測量和檢測不同工件,如醫用塑膠、雙極板或印刷電路板。

      • 利用蔡司O-INSPECT duo測量和檢測電子部件
      • 利用蔡司O-INSPECT duo測量和檢測雙極板
      • 利用蔡司O-INSPECT duo測量和檢測醫用塑膠
      Michael Zeller

      在顯微鏡下,我們現在有更大的空間來觀察部件,無需再切割樣品

      Michael Zeller Zollner Elektronik AG測試設備監控和測量技術高級經理

      觀看我們的演示錄製,瞭解功能、軟體和實踐

      體驗O-INSPECT duo的實際操作,觀看我們的產品網路研討會,瞭解我們的產品經理的有趣見解、軟體演示以及我們的一位元試用客戶的聲明。在本環節中,您將瞭解如何將顯微鏡和計量技術結合到一台設備中,從而改進您的品質保證流程。

      下載

      • ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

        4 MB


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