蔡司scatterControl
出色的CT圖像品質
硬體解決方案蔡司scatterControl可大幅降低CT掃描的散射偽影,從而顯著提高蔡司METROTOM 1500的圖像品質。這有助於後續的資料處理和評估步驟,使表面測定和缺陷分析更加準確。
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使用蔡司METROTOM 1500,您可以獲得先進的CT技術,透過捕捉和測量表面下的缺陷,可靠地檢測缺陷。這台CT的特色:無論是小型或大型部件,以及介於兩者之間的所有部件,都能快速提供高解析度圖像。
蔡司METROTOM 1500具有出色的圖像品質,即使是微小的缺陷也能清晰顯示。AMMAR、BHC軟體和蔡司scatterControl硬體模組確保品質無可挑剔。此外,該CT還符合VDI/VDE 2630標準中關於可溯源精度的規定。
得益于蔡司高水準的計量專業知識(同樣用於CT技術),高測量精度值得您信賴。根據VDI/VDE 2630第1.3部分的標準,整個視場的MPE(SD)為4.5 + L/50 μm,測量結果十分可靠。
蔡司METROTOM 1500以極高的解析度掃描小部件,可對直徑達615mm、高度達800mm的部件進行完整的重構。這一點透過在水平和垂直方向上擴大了觀察視野得以實現。由於其柔性管的一側焦點只有幾微米,而另一側的最大功率為500W,因此能夠以非常高的解析度掃描小型部件,並在短時間內掃描大型部件,使得該系統適用于多種應用。
汽車、醫療或製藥產業的品質標準較高,通常需要採用經認可的CT檢測程式。它們可確保根據VDI/VDE 2630第1.3部分對部件進行客觀、符合標準的測量。DAkkS標定還可用于蔡司METROTOM 1500系列工業電腦斷層掃描器。從附加值中獲益:節約成本,為客戶創造更多信任。
該設備占地面積相當小,門的構造巧妙,既可用於服務,也可用於部件裝載,安裝靈活,即使空間有限,也能將CT安裝到測量實驗室中。為了幫助您充分利用可用空間,我們在減少占地面積的同時進一步擴大了測量體積:在3.7 × 1.8米的占地面積上測量和檢測高度為870mm的工件,這是目前市場上十分突出的系統/部件體積比。
在利用傳統量測技術時,此類隱藏性的結構資訊只有將部件透過費時的層層破壞方能獲得。蔡司METROTOM 1500則是一種工業電腦斷層掃描系統,用於測量和檢查塑膠和/或輕金屬甚至銅或鋼製成的完整部件。
瞭解蔡司METROTOM 1500的更多優勢。