蔡司3D X射線

高精度測量技術和可靠的檢測

用於量測和檢測的工業電腦斷層掃描技術

蔡司工業電腦斷層掃描系統的產品組合使您能夠在大量應用中執行先進的測量和檢測任務。所有系統都配備了高品質的部件和新穎的軟體解決方案，以確保出眾性能。

準確測量內部和外部結構

蔡司METROTOM產品系列可對內部和外部結構進行高精度測量，用於對部件和元件進行無損檢測。所有系統都能根據可溯源的3D體積資料進行準確的缺陷和尺寸分析，因此適用於全面保證各種部件的品質，也可用於批量生產的程序控制。

蔡司METROTOM 1500

使用蔡司METROTOM 1500，您可以獲得先進的CT技術，透過發現表面下的缺陷和準確檢查尺寸，可靠地檢測缺陷。這款CT的特別之處在于其應用範圍極廣，從小型部件到超大型部件，以及介於兩者之間的各類部件都涵蓋在內。

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蔡司METROTOM 6 scout

蔡司METROTOM 6 scout以先進的細節水準對包括內部幾何結構在內的複雜部件進行數位化處理。可生成一個高解析度的3D體積，用於形位公差分析、標稱-實際比較或缺陷檢測。該系統是以高解析度對中小型塑膠部件進行數位化處理和檢測的理想選擇。

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蔡司METROTOM 800 130 kV

蔡司METROTOM 800 130kV配備了可實現高精度的部件。這使其成為了高級計量應用的理想選擇，例如對中小型塑膠部件全面進行具有嚴格公差的尺寸檢測。透過同時掃描多個小型部件，該系統還能實現極大的通量。

蔡司METROTOM 800 225 kV

蔡司METROTOM 800 225 kV因其靈活性而備受青睞。從小型塑膠部件到中型混合材料部件，該系統都能輕鬆處理。在應用方面也具有同樣的靈活性：尺寸檢測、缺陷分析和裝配控制只是其中一部分應用。

蔡司METROTOM 1

當內部情況非常重要時，蔡司METROTOM 1便是您的選擇：無需製備任何部件即可獲取準確的3D資料。透過電腦斷層掃描技術，您可以對部件進行非破壞性掃描並觀察內部情況。測量、分析和檢測隱藏的缺陷和內部結構。與蔡司INSPECT軟體結合使用，可以達到簡化品質控制的新境界。

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在生產線附近高效檢測缺陷

部件品質的早期評估在當今工業中至關重要。為了在進一步加工部件之前識別出關鍵缺陷並能夠消除原因，蔡司提供了一系列CT解決方案，專門用於在生產線附近對缺陷進行快速可靠的檢測。系統能夠以非破壞性的方式檢查氣孔、夾雜物或孔隙度，並確定缺陷的大小，以評估部件的品質和安全性。

蔡司VoluMax 9 titan

蔡司VoluMax 9 titan結合了強大的技術和易用性。CT系統配備的X射線管能產生高達450 kV和1500 W的電壓，穿透力極強。其能可靠地檢測高密度部件和複雜的多材料元件中的缺陷。

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蔡司BOSELLO MAX

高度的靈活性和多種配置選項使蔡司BOSELLO MAX成為了對不同類型和尺寸的鑄件等進行2D和3D X射線（選配）檢測的理想選擇。

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蔡司BOSELLO HEX

蔡司BOSELLO HEX可以為所有使用者快速檢測中小型鑄件。蔡司BOSELLO HEX體積小巧，是適合您的需求、空間和預算的理想2D X射線解決方案。蔡司BOSELLO HEX還選配配3D X射線檢測功能。

優勢

蔡司3D X射線技術提高了檢測塑膠或金屬部件內部隱藏結構的精度和效率。快速、無損地生成高解析度體積資料，從而確保了可靠的品質保證。

高效、無損

工業電腦斷層掃描系統旨在分析各類部件的幾何形狀、缺陷和隱藏結構。它們取代了耗時耗力的傳統方法，可以高效地測量和檢測整個部件。

高精度測量

蔡司3D X射線系統可透過一次高解析度掃描捕捉整個部件。由於使用了精密部件和先進的標定方法，掃描結果可用於符合最高精度標準的計量評估。

簡化工作流

蔡司3D X射線技術提高了部件檢測過程的精度和效率。快速、無損地生成高解析度體積資料，從而確保了可靠的品質保證，即使是要求極高的部件也不例外。

認證

DAkkS認證標定

汽車、醫療或製藥產業更高的品質標準要求採用經認可的CT檢測方法。它們可確保根據VDI/VDE 2630第1.3部分對部件進行客觀、符合標準的測量。DAkkS認證在全球範圍內得到認可，省去了多次評估的費用。DAkkS標定適用于蔡司METROTOM 800和1500電腦斷層掃描系統。利用其優勢，幫助您節省資金，並與客戶建立更多信任。

電動方程式錦標賽最受歡迎的奧迪車隊ABT Schaeffler也依靠蔡司METROTOM來查看材料中的孔隙和裂縫。

軟體

蔡司INSPECT X射線

全面的3DCT資料分析

易於使用的分析軟體蔡司INSPECT X射線可以自動或定制進行完整的3D CT資料分析，初學者也可輕鬆上手。可對幾何形狀、收縮孔或內部結構和元件進行準確分析。即使是極其微小的缺陷，也能透過單個截面圖像清晰顯示。您還可以將多個部件的體積資料載入到一個專案中，進行趨勢分析，並將結果與CAD資料進行比較，而這一切只需一個軟體即可完成。

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蔡司Automated Defect Detection（ZADD）

電腦斷層掃描中的人工智慧

蔡司INSPECT X射線中的ZADD外掛程式透過在CT體積資料上應用以人工智慧為基礎的方法，即使是微小和模糊的缺陷也能可靠地檢測出來。

ZADD能夠快速自動檢測、定位和分類這些缺陷或異常。該軟體外掛程式專為鑄件、注塑件、電池和印刷元件等應用而開發。

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透過電腦斷層掃描技術，我們可以深入瞭解產品的內部結構，而這在其他情況下是不可能實現的。只有這樣，我們才能真正看到材料在真實條件下的表現，從而為重新計算和後續調整提供資訊。

Johannes Pichler R&D負責人，starlim//sterner

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